İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES) – ToronICP™ MICS (Tam Spektrum, Doğrudan Okuma)
İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES) – ToronICP™-MICS, hızlı, doğru ve tekrarlanabilir element analizi için tasarlanmış kompakt, tam spektrumlu bir indüktif olarak eşleştirilmiş plazma spektrofotometresidir. Sistem, sıvı numunelerdeki atomları uyaran ve her elementin geniş bir dinamik aralıkta element konsantrasyonlarını hassas bir şekilde belirlemek için kullanılan karakteristik dalga boylarını yaymasına neden olan kararlı, yüksek sıcaklıkta bir indüktif olarak eşleştirilmiş plazma üretir.
Bu gelişmiş indüktif olarak eşleştirilmiş plazma emisyon spektroskopisi platformu, düşük algılama limitleri ve minimum kimyasal girişimle gerçek zamanlı çoklu element ölçümünü mümkün kılmak için katı hal RF güç kaynağı, araştırma sınıfı bir CCD dedektörü ve akıllı veri işleme yazılımını entegre eder.
Yer tasarrufu sağlayan tasarımı, otomatik işletim fonksiyonları ve gerçek zamanlı sistem izleme özelliği, tutarlı performans sağlayarak verimlilik, analitik istikrar ve elementel sonuçlarda yüksek güvenilirlik gerektiren modern laboratuvarlar için ideal bir çözüm sunmaktadır.
Başvurular
İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi – ToronICP™-MICS aşağıdakiler için uygundur:
- Çevre koruma, su, toprak ve kirlilik izleme dahil.
- İz element ve kirletici madde analizi için gıda güvenliği testleri
- Jeoloji ve mineral kaynakları, cevher ve elementel bileşim çalışmaları dahil.
- Metalurji ve demir dışı metaller, kalite kontrolü ve safsızlık tespiti için
- Nadir toprak element analizi, araştırma ve endüstriyel işlemeyi destekler.
- Kimya mühendisliği laboratuvarları, malzeme ve süreç değerlendirmesi için.
- Yakıtlar ve katkı maddeleri de dahil olmak üzere petrol ve petrokimya testleri.
- Yarıiletken ve elektronik malzeme analizi
- Tarım ve bilimsel araştırma laboratuvarları
İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES) – ToronICP™ MICS (Tam Spektrum, Doğrudan Okuma) Temel Özellikleri
- Doğru element analizi için İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES)
- Tüm elementlerin eş zamanlı olarak algılanmasını sağlayan, tam spektrumlu, doğrudan okumalı optik sistem.
- Yaklaşık 160–900 nm dalga boyu aralığını kapsayan, araştırma amaçlı geniş formatlı CCD dedektörü.
- Hızlı analiz hızı, tek bir numunede yaklaşık 70 elementi bir dakika içinde ölçebilme kapasitesine sahip.
- Kontrol yazılımı aracılığıyla tam renkli görselleştirme ile gerçek zamanlı plazma alevi izleme.
- Otomatik dalga boyu kalibrasyonu, kurulum süresini azaltır ve ölçüm tutarlılığını artırır.
- Tam otomatik ateşleme ve eşleştirme teknolojisi, tek tıklamayla başlatma ve istikrarlı plazma çalışması sağlar.
- Düşük kimyasal girişim oranı, daha doğru ve tekrarlanabilir sonuçlar sağlar.
- Kompakt ve akıllı tasarım, modern analitik laboratuvarlar için optimize edilmiştir.
- Otomatik kapanma ve alarm sistemleriyle ekipman hasarını önleyen güvenli argon hava akışı koruması.
Otomatik dalga boyu kalibrasyonu
Tam otomatik ateşleme ve eşleştirme teknolojisi
Araştırma amaçlı büyük formatlı CCD dedektörü
Araştırma amaçlı büyük formatlı CCD dedektörü
Güvenli argon hava akışı koruması
teori
İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Optik Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES), element analizi için güçlü ve çok yönlü bir yöntemdir. Bu teknik, argon gazını radyo frekanslı elektromanyetik alanla enerjilendirerek 10,000 K'nin üzerinde sıcaklıklara ulaşan son derece sıcak ve kararlı bir plazma oluşturarak çalışır.
Analitik süreç, sıvı numunelerin ince bir aerosole dönüştürülmesini ve bu aerosolün yüksek sıcaklıktaki plazmaya verilmesini içerir. Plazma içinde, numunedeki elementler uyarılır ve ardından her elemente özgü dalga boylarında ışık yayarlar. Daha sonra, indüktif olarak eşleştirilmiş bir plazma spektrofotometresi bu yayılan ışığı algılar; bu da birden fazla elementin eş zamanlı olarak tanımlanmasını ve hassas bir şekilde nicelendirilmesini sağlar.
ICP-OES, çevre izleme, metal analizi, endüstriyel kalite kontrolü ve bilimsel araştırma dahil olmak üzere çeşitli alanlarda büyük değer görmektedir. Güvenilirliği ve çok yönlülüğü, hız, doğruluk, yüksek hassasiyet, minimum kimyasal girişim ve geniş doğrusal ölçüm aralığı gibi temel avantajlarından kaynaklanmaktadır.
İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi – ToronICP™ MICS (Tam Spektrum, Doğrudan Okuma) Teknik Özellikleri
| Model | ToronICP™ MICS |
|---|---|
| Analitik Teknik | İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Emisyon Spektroskopisi (ICP-OES) |
| Enstrüman Tipi | İndüktif Olarak Eşleştirilmiş Plazma Spektrofotometresi |
| Optik Mod | Tam spektrum, doğrudan okuma |
| Dedektör Tipi | Geniş formatlı bilimsel CCD dedektörü |
| Dalga boyu aralığı | Yaklaşık 160–900 nm |
| Element Kapsamı | Yaklaşık 70 unsur |
| Analiz Modu | Eş zamanlı çoklu eleman analizi |
| Analiz Hızı | Dakikada en fazla bir örnek |
| Tespit Sınırı | ppb seviyesine kadar |
| Plazma İzleme | Gerçek zamanlı tam renkli plazma alevi gözlemi |
| Kalibrasyon | Otomatik dalga boyu kalibrasyonu |
| Ateşleme sistemi | Tam otomatik ateşleme ve RF eşleştirme |
| RF Güç Kaynağı | Katı hal RF güç kaynağı |
| Güvenlik Özellikleri | Otomatik koruma özellikli argon gazı izleme sistemi |
| Çalışma Frekansı | 27.12 MHz |
| Frekans Kararlılığı | |
| Çıkış Gücü | 800W-1500W |
| Çıkış Gücü Kararlılığı | |
| Elektromanyetik alan sızıntı radyasyon yoğunluğu | Şasiden 30 cm uzaklıkta, elektrik alanı: E < 10 V/m; Manyetik alan: H < 0.2 A/m |
| Odak uzaklığı | 440mm |
| Dalga boyu aralığı | 175nm ~ 870nm |
| Azot temizleme | Yüksek hızda üfleme 6 L/dak, normal üfleme 2 L/dak |
| Algılama dalga boyu aralığı | 65 nm ~ 900 nm |
| Soğutma sıcaklığı | -45 ℃ |
| Azot temizleme akış hızı | 3L / dakika |