Analizador XRD portátil – Difractómetro de rayos X – SHINE Soil Edition
El analizador XRD portátil – Difractómetro de rayos X – SHINE Soil Edition está diseñado específicamente para la identificación y análisis del contenido de minerales arcillosos. Este dispositivo identifica rápidamente los tipos de minerales arcillosos y sus respectivos porcentajes en función de las estructuras cristalinas. Incluso los minerales de grano pequeño se pueden determinar con precisión, lo que lo convierte en el método principal para la identificación de minerales arcillosos. Sus ventajas incluyen una preparación sencilla de muestras, un análisis rápido y una alta precisión de medición.
El principio básico de la difracción de rayos X implica la interacción entre un haz de rayos X monocromático y una estructura cristalina. Cuando el rayo incide sobre el cristal, sus átomos se organizan en una celda a distancias comparables a la longitud de onda de los rayos X incidentes. Esto da como resultado una interferencia mutua de los rayos X dispersos por diferentes posiciones atómicas, lo que lleva a efectos más fuertes en direcciones específicas y a la formación de líneas de difracción con distribución espacial e intensidad variables. Estos patrones se correlacionan estrechamente con la estructura del cristal.
Los minerales arcillosos sirven como medio principal para la interacción de partículas cargadas dentro del suelo. Las investigaciones indican la existencia de más de diez tipos de minerales arcillosos, incluidos clorita, caolinita, illita, montmorillonita e illita/montmorillonita. La distribución y el contenido de estos minerales varían significativamente entre las diferentes regiones, con variaciones sustanciales en los yacimientos tanto horizontales como verticales.
Desarrollo verde de la agricultura
Control de la contaminación del suelo
Estudio de indicadores ambientales
Estuche de carga
El analizador XRD portátil – Difractómetro de rayos X – SHINE Soil Edition presenta un diseño todo en uno a prueba de agua y polvo, sin piezas mecánicas móviles. Es liviano, compacto y cómodo de transportar, lo que facilita una investigación científica fluida tanto en laboratorio como en campo.
Integración:
La integración de las tecnologías XRD y XRF permite la recopilación simultánea de datos de fotones de rayos X de ambos métodos durante cada prueba. Este enfoque integral proporciona información detallada sobre la composición, fase y estructura del material, mejorando así la precisión de los resultados de las pruebas.
Facilidad
El analizador XRD portátil - Difractómetro de rayos X - SHINE Soil Edition funciona con una sola tecla, no requiere corrección y presenta detección automática. Los usuarios no necesitan prestar especial atención al sistema de alta presión o al sistema de enfriamiento por circulación de agua, ya que el instrumento no incluye componentes adicionales para el enfriamiento por alta presión o por circulación de agua.
Transmisión de datos
El analizador XRD portátil – difractómetro de rayos X – SHINE Soil Edition logra conexiones de alta velocidad con una computadora portátil a través de USB, Bluetooth y WIFI, lo que permite el control en tiempo real y el análisis de fase del instrumento SHINE.
Difractómetro de rayos X bidimensional
El analizador XRD portátil – Difractómetro de rayos X – SHINE Soil Edition está equipado con un detector de dispositivo de carga acoplada (CCD), capaz de capturar cortes del anillo de difracción. Esta característica ayuda a los usuarios a determinar si la muestra se ha preparado correctamente, incluidas las estadísticas de partículas y la orientación preferida del grano. Además, ayuda a los usuarios a confirmar la exactitud y representatividad de los datos cualitativos y cuantitativos obtenidos.
Flexibilidad
Según las aplicaciones específicas solicitadas por los usuarios, ofrecemos a los clientes dos objetivos de ánodo diferentes: objetivos de Cu y Co.
resolución XRD | 0.2°@2θ FWHM |
Alcance de XRD | 5-55°2θ |
el detector | 2000 X 256 píxeles, 2d, nivel 3 CCD de refrigeración Pelter |
Objetivo del tubo de rayos X | Tubo de rayos X de punto microfocal en grupo, objetivo de Cu o Co, Cr, Fe, Ni, Mo, Ag, W (opcional según la muestra de prueba) |
Voltaje del tubo de rayos X | Máximo 50 kV, 0-50 kV ajustable |
Potencia del tubo de rayos X | Máximo 40W, 0-40W ajustable |
Resolución de energía XRF | 127eV@8keV |
Rango de detección XRF | Mg—U |
Tamaño de partícula de la muestra | Partícula de muestra <150um (tamiz de malla 100) |
Método de enfriamiento | Refrigeración por agua |
Peso de la muestra | alrededor de 20 mg |
Temperatura de trabajo | -10 ° C-35 ° C |
Peso | 15KG |
La fuente de poder | Batería de iones de litio o adaptador de corriente |
Tamaño | 50 × 40 × 18.8 cm (largo × ancho × alto) |
Lenguaje del software de análisis CrystalX | Ingles y otros idiomas |