Analisador de espessura de revestimento ScopeX PILOT
O analisador de espessura de revestimento ScopeX PILOT usa uma abordagem de análise de cima para baixo, apresentando software de algoritmo Multi-FP avançado, tecnologia de agregação ultraleve e um dispositivo de medição de distância com zoom de alta sensibilidade. Essa configuração permite testes rápidos, precisos e não destrutivos em superfícies irregulares, irregulares ou minúsculas.
A análise da espessura do revestimento tornou-se um aspecto vital da indústria de processamento e da inspeção de qualidade na engenharia de superfícies. Ela serve como um método crucial para garantir que os produtos atendam aos padrões de qualidade. Para a globalização dos produtos, requisitos específicos relativos à espessura do revestimento são obrigatórios para exportações e projetos internacionais.
Enfrentar os desafios no controle da qualidade do produto durante os processos de tratamento de superfície e triagem no setor de revestimentos é facilmente administrável com o Analisador de Espessura de Revestimento ScopeX PILOT. Ele encontra ampla aplicação em setores como joalheria, galvanoplastia, automotivo, ferragens, louças sanitárias, aeroespacial, semicondutores eletrônicos e muito mais.
>5 camadas
Número de camadas de revestimento testáveis
Multi-colimador
Vários colimadores são opcionais e flexíveis
NDT
Sem danos ou efeitos no desempenho dos objetos testados. Vantagens da aplicação.
Fixadores
Peças pequenas de ferragens
Jóias
Auto Parts
Placas de circuito impresso
Componentes Eletrônicos
Dispositivo de raio X microfocal opcional
Capaz de analisar com facilidade e precisão diversas amostras minúsculas.
Multicolimador / filtros
O software pode selecionar opcionalmente vários filtros e colimadores ou alternar automaticamente para a combinação ideal. Isto aumenta enormemente a versatilidade do instrumento, permitindo a análise flexível de peças de tamanhos variados.
Design de baixo para cima
Meça de baixo para cima sem exigir foco específico. Obtenha medição eficiente de amostras de revestimento.
END (ensaios não destrutivos)
A análise XRF não é destrutiva para amostras, garantindo segurança mesmo para materiais sensíveis.
Dispositivo de zoom
Várias peças côncavas com formatos especiais podem ser testadas, com a faixa de medição da profundidade da ranhura estendendo-se de 0 a 30 mm.
Plataforma XY manual de alta precisão
Fornecido com plataforma XY manual de alta precisão, com precisão de até 25 μm, facilitando medições de microáreas mais convenientes.
Medição com um toque
O instrumento possui software de análise intuitivo e inteligente, garantindo facilidade de operação. Testar amostras não requer treinamento; basta clicar em "Iniciar teste" e os resultados estarão disponíveis em segundos.
Faixa de elemento | Al(13)-Fm(100) |
Análise do número da camada de | 5 camadas (4 camadas + substrato) cada camada pode analisar 10 elementos, a análise de composição pode analisar até 25 elementos |
Tubo de raio-x | Tubo de raios de tungstênio e paládio microfocado de 50 W (50 kV, 1 mA) (o material alvo é opcional) |
O detector | Detector Si-Pin, detector SDD de alta sensibilidade (opcional) |
Colimador | Φ3opcional |
A câmera | Câmera colorida CMOS de alta resolução, 5 megapixels |
Plataforma XY de amostra manual | Faixa móvel: 50x50 mm |
Filtrar | Filtro primário fixo, multifiltro (opcional) |
Tamanho da sala de amostra | 320×480×130mm(L×P×A) |
Dimensão | 330×580×360mm(L×P×A) |
Peso | 40KG |
Fonte de energia | CA 220V±5V 50Hz (110V também disponível) |
Potência nominal | 150W |