Analizzatori XRF e XRD
Gli analizzatori XRF e XRD di Torontech supportano l'analisi elementare, strutturale e dei materiali in ambienti di laboratorio, sul campo e di produzione. La gamma comprende analizzatori XRF palmari, sistemi XRF portatili, analizzatori RoHS, diffrattometri a raggi X, spettrometri TXRF, spettrometri Raman, analizzatori LIBS, analizzatori di spessore dei rivestimenti e soluzioni di monitoraggio online.
L'analisi XRF aiuta a identificare e quantificare la composizione elementare di metalli, minerali, rivestimenti, polimeri, materiali petroliferi, materiali riciclati, prodotti di consumo e campioni ambientali. L'analisi XRD supporta la valutazione della struttura cristallina, l'identificazione delle fasi, l'analisi dei minerali e la ricerca sui materiali in cui i dati strutturali sono importanti.
Questi analizzatori supportano i team di controllo qualità, i laboratori, gli ingegneri dei materiali, gli impianti di produzione e i flussi di lavoro di ispezione nei settori del riciclaggio, dell'estrazione mineraria, della metallurgia, del cemento, del petrolio, dell'elettronica, dei rivestimenti, della sicurezza dei prodotti di consumo e dei test ambientali. Le applicazioni più comuni includono la verifica delle leghe, lo screening RoHS, la misurazione dello spessore dei rivestimenti, i controlli di contaminazione, l'analisi di fase e l'ispezione dei materiali in entrata.
Utilizza la tabella comparativa qui sotto per esaminare le opzioni di analizzatore in base al formato, allo scopo principale, all'idoneità all'applicazione, ai fattori determinanti nella scelta e alle linee guida per la selezione.
Confronta XRF, XRD e opzioni di analizzatori correlati
Panoramica affiancata e raggruppata per categoria di strumenti per aiutarti a selezionare più velocemente l'analizzatore giusto.
Analizzatori di campo portatili e palmari
| Caratteristica | Serie XRF portatile TrueX | Serie XRF portatile PeDX | Analizzatore ScopeX RoHS | Analizzatore LIBS | Analizzatore di metalli preziosi dell'oro |
|---|---|---|---|---|---|
| Scopo principale | Screening elementare in loco con XRF portatile | XRF portatile per analisi sul campo e flussi di lavoro di ispezione | Screening di conformità per i controlli in stile RoHS | Identificazione rapida dei materiali mediante tecnica LIBS | Casi d'uso per la verifica e il commercio di metalli preziosi |
| Formato | Palmare | Portatile/pronto per il campo | Portatile / orientato all'ispezione | Portatile/pronto per il campo | Portatile / focalizzato sull'applicazione |
| Ideale per | Riciclaggio, controlli ambientali, screening QA, ispezione del sito | Operazioni sul campo che necessitano di analisi elementari portatili | Controlli di sicurezza dei prodotti di consumo e flussi di lavoro di conformità | Flussi di lavoro rapidi di smistamento e identificazione (dipendenti dal metodo) | Gioielli, pegno, supporto alla raffinazione e controlli di metalli preziosi |
| Fattore decisionale | Hai bisogno di un dispositivo portatile per uno screening rapido | È necessaria una configurazione portatile per i flussi di lavoro sul campo | Necessità di concentrarsi sullo screening della conformità | Hai bisogno di una tecnica di identificazione rapida alternativa alla XRF? | Necessità di un flusso di lavoro dedicato ai metalli preziosi |
| Suggerimento per la selezione | Scegli quando desideri l'XRF portatile per un'ampia selezione in loco | Scegli quando la portabilità e l'implementazione sul campo sono la priorità | Scegli quando il tuo obiettivo sono i controlli di conformità in stile RoHS | Scegli quando la tecnica LIBS si adatta meglio alle tue esigenze di ordinamento | Scegliere quando la verifica dei metalli preziosi è il caso d'uso principale |
Sistemi da banco e da laboratorio
| Caratteristica | Famiglia di spettrometri da tavolo ScopeX CS | Analizzatori XRD (diffrattometri a raggi X) | Spettrometro TXRF (TTX3000S) | Analizzatore dello spessore del rivestimento |
|---|---|---|---|---|
| Scopo principale | Flussi di lavoro dello spettrometro desktop (opzioni famiglia) | Analisi della struttura di fase/cristallina mediante XRD | XRF a riflessione totale per flussi di lavoro in stile traccia (dipendenti dal sistema) | Misurare lo spessore del rivestimento per il controllo qualità e l'ispezione |
| Formato | Desktop/da banco (famiglia) | Sistema di laboratorio | Sistema di laboratorio | Analizzatore (focalizzato sull'applicazione) |
| Ideale per | Flussi di lavoro di analisi basati su laboratorio che necessitano di un sistema desktop | Scienza dei materiali, ricerca e sviluppo, analisi di minerali e fasi | Flussi di lavoro di laboratorio che richiedono la tecnica TXRF | Controllo qualità di produzione, convalida di placcatura/rivestimento, laboratori di ispezione |
| Fattore decisionale | Hai bisogno di un sistema desktop con opzioni di modello familiare | Necessaria la tecnica XRD per informazioni strutturali/di fase | Necessaria la tecnica TXRF e la configurazione del laboratorio | Necessita di una misurazione dedicata dello spessore del rivestimento |
| Suggerimento per la selezione | Scegli quando desideri un flusso di lavoro dello spettrometro desktop in laboratorio | Scegli quando è richiesta la diffrazione XRD per la caratterizzazione del tuo materiale | Scegli quando la tecnica TXRF corrisponde al tuo metodo di laboratorio | Scegliere quando lo spessore del rivestimento è la metrica chiave del controllo qualità |
Tecnologie correlate e monitoraggio
| Caratteristica | Spettrometri Raman | Monitor in linea |
|---|---|---|
| Scopo principale | Identificazione chimica non distruttiva mediante spettroscopia Raman | Flussi di lavoro di monitoraggio continui o in linea (dipendenti dal sistema) |
| Ideale per | Identificazione del materiale, verifica tramite imballaggio, controlli rapidi in laboratorio/sul campo | Monitoraggio dei processi e ambienti di misurazione continua |
| Fattore decisionale | È necessaria l’identificazione molecolare delle “impronte digitali” oltre all’analisi elementare | È necessario un monitoraggio continuo piuttosto che controlli a campione |
| Suggerimento per la selezione | Scegli quando Raman è il metodo giusto per il tuo flusso di lavoro di identificazione | Scegli quando è necessario un monitoraggio continuo per il tuo processo |
