Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – Edisi Penelitian SHINE
Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – SHINE Research Edition mengintegrasikan XRD, XRF, dan teknologi perangkat lunak komputer. Hal ini memungkinkan analisis sampel melalui difraksi sinar-X, memberikan wawasan tentang komposisi material dan struktur internal, termasuk identifikasi fase kristal dan elemen jejak.
Dengan persiapan sampel sederhana dan pengukuran presisi tinggi, ia menawarkan pemahaman komprehensif tentang integritas kristal, menjadikannya metode utama untuk mempelajari fase dan struktur kristal dalam material.
Memanfaatkan teknologi geometri transmisi, SHINE mengarahkan sinar X-ray melalui lokasi sampel. Tabung sinar-X fokus mikro memancarkan sinar melalui kolimator, menyinari partikel bubuk di kumpulan sampel. Sistem getaran unik memastikan peningkatan paparan partikel bubuk kristal terhadap sinar X-ray, sesuai dengan hukum Bragg. Ukuran sampel yang tetap dalam kumpulan menjaga stabilitas resolusi, hal ini penting untuk bahan dengan kepadatan rendah seperti sampel obat, di mana resolusi yang lebih tinggi dapat dicapai dibandingkan dengan instrumen yang menggunakan geometri reflektif.
Bio-farmasi
Pemantauan Lingkungan
Geologi dan Prospeksi
Penelitian dan Pendidikan
Senyawa Logam
Kimia dan Katalis
Portabel
Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – SHINE Research Edition memiliki fitur desain kedap air dan tahan debu yang lengkap, sehingga menghilangkan kebutuhan akan komponen bergerak mekanis. Ringan, kompak, dan mudah dibawa, memfasilitasi penelitian ilmiah yang lancar baik di laboratorium maupun di lapangan.
integrasi
XRD terintegrasi secara mulus dengan teknologi XRF, memungkinkan pengumpulan data foton sinar-X secara bersamaan dari kedua metode selama setiap pengujian. Pendekatan komprehensif ini memberikan informasi rinci tentang komposisi material, fase, dan struktur, sehingga meningkatkan keakuratan hasil pengujian.
Pengoperasian yang Mudah
Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – SHINE Research Edition mudah digunakan, tidak memerlukan kalibrasi dan menawarkan deteksi otomatis. Ini memberikan tampilan difraksi spektrum penuh secara real-time, analisis fase otomatis, dan menghasilkan hasil kuantitatif hanya dengan satu operasi tombol.
Persiapan sampelnya sederhana
Untuk analisis tunggal, hanya diperlukan sekitar 20 mg sampel untuk mencapai hasil pengujian berkualitas tinggi. Persiapan sampel, termasuk penghancuran, penyaringan, dan pengambilan sampel, dapat diselesaikan hanya dalam 3 menit tanpa perlu pencetakan, pengepresan, atau pengikisan untuk keseragaman.
Transmisi data
Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – SHINE Research Edition mencapai koneksi berkecepatan tinggi dengan komputer laptop melalui USB, Bluetooth, dan WIFI, memungkinkan kontrol real-time dan analisis fase SHINE.
Safety/keselamatan
Penganalisis XRD Portabel – Difraktometer Sinar-X – Edisi Penelitian SHINE menjalani beberapa perawatan radiasi pelindung profesional untuk memastikan tidak ada kebocoran radiasi ke segala arah selama pengukuran.
resolusi XRD | 0.2°@2θ FWHM |
Ruang Lingkup XRD | 5-55°2θ |
Detektor | CCD pendingin Pelter 2000 X 256 piksel, 2d, level 3 |
Target tabung sinar-X | Tabung sinar-X titik mikrofokal cluster, target Cu atau Co, Cr, Fe, Ni, Mo, Ag, W (opsional berdasarkan sampel uji) |
Tegangan tabung sinar-X | Maksimum 50kV, 0-50kV dapat disesuaikan |
Kekuatan tabung sinar X | Maksimum 40W, 0-40W dapat disesuaikan |
Resolusi energi XRF | 127eV@8keV |
Jangkauan deteksi XRF | Mg—U |
Metode Pendinginan | Pendingin air |
Ukuran partikel sampel | Partikel sampel <150um (saringan 100 mesh) |
Berat sampel | sekitar 20 mg |
Bekerja suhu | -10 ° C-35 ° C |
Berat | 15KG |
Catu daya | Baterai litium ion atau adaptor daya |
Ukuran | 50×40×18.8cm（P×L×T） |
Bahasa perangkat lunak analisis CrystalX | Inggris dan bahasa lainnya |