Analizador de espesor de recubrimiento ScopeX PILOT
El analizador de espesor de recubrimiento ScopeX PILOT utiliza un enfoque de análisis de arriba hacia abajo, que incluye un software avanzado de algoritmo Multi-FP, tecnología de agregación ultraligera y un dispositivo de medición de distancia con zoom de alta sensibilidad. Esta configuración permite realizar pruebas rápidas, precisas y no destructivas en superficies desiguales, irregulares o minúsculas.
El análisis del espesor del recubrimiento se ha convertido en un aspecto vital de la industria de procesamiento y la inspección de calidad en la ingeniería de superficies. Sirve como un método crucial para garantizar que los productos cumplan con los estándares de calidad. Para la globalización de los productos, se exigen requisitos específicos de espesor del recubrimiento para las exportaciones y los proyectos relacionados con el extranjero.
Abordar los desafíos en el control de la calidad del producto durante los procesos de tratamiento de superficies y cribado en el sector de recubrimientos es fácilmente manejable con el analizador de espesor de recubrimiento ScopeX PILOT. Encuentra una amplia aplicación en industrias como joyería, galvanoplastia, automoción, ferretería, accesorios de baño, aeroespacial, semiconductores electrónicos y más.
>5 capas
Número de capas de revestimiento comprobables
Multicolimador
Múltiples colimadores son opcionales y flexibles
NDT
Sin daños ni efectos sobre el rendimiento de los objetos probados Ventajas de la aplicación
Sujetadores
Piezas pequeñas de hardware
Joyería
Auto Parts
Circuitos impresos
Componentes y sistemas electrónicos
Dispositivo de rayos X microfocal opcional
Capaz de analizar con facilidad y precisión diversas muestras diminutas.
Multicolimador / filtros
El software puede seleccionar opcionalmente varios filtros y colimadores o cambiar automáticamente a la combinación óptima. Esto aumenta enormemente la versatilidad del instrumento, permitiendo un análisis flexible de piezas de diferentes tamaños.
Diseño de abajo hacia arriba
Mida de abajo hacia arriba sin necesidad de un enfoque específico. Consiga una medición eficiente de muestras de recubrimiento.
END (ensayos no destructivos)
El análisis XRF no es destructivo para las muestras, lo que garantiza la seguridad incluso para materiales sensibles.
Dispositivo de zoom
Se pueden probar varias piezas cóncavas de formas especiales, con un rango de medición de la profundidad de la ranura que se extiende de 0 a 30 mm.
Plataforma XY manual de alta precisión
Equipado con una plataforma XY manual de alta precisión, con una precisión de hasta 25 μm, lo que facilita mediciones de microáreas más convenientes.
Medición con un solo toque
El instrumento cuenta con un software de análisis intuitivo e inteligente, lo que garantiza una fácil operación. Probar muestras no requiere formación; simplemente haga clic en "Iniciar prueba" y los resultados estarán disponibles en segundos.
Gama de elementos | Al(13)-Fm(100) |
Análisis del número de capas de | 5 capas (4 capas + sustrato) cada capa puede analizar 10 elementos, el análisis de composición puede analizar hasta 25 elementos |
Tubo de rayos-x | Tubo de rayos de tungsteno-paladio microenfocado de 50 W (50 kV, 1 mA) (el material objetivo es opcional) |
el detector | Detector Si-Pin, detector SDD de alta sensibilidad (opcional) |
Colimador | Φ3opcional |
La Cámara | Cámara color CMOS de alta resolución, 5 megapíxeles |
Plataforma XY de muestra manual | Rango de movimiento: 50x50 mm |
Filtrar | Filtro primario fijo, multifiltro (opcional) |
Tamaño de la sala de muestra | 320 × 480 × 130 mm (ancho × profundidad × alto) |
Dimensión | 330 × 580 × 360 mm (ancho × profundidad × alto) |
Peso | 40KG |
Fuente de alimentación | CA 220 V ± 5 V 50 Hz (110 V también disponible) |
Potencia nominal | 150W |